Caractéristiques des microscopes à sonde à balayage
La microscopie à sonde à balayage est le troisième microscope permettant d'observer la structure de la matière à l'échelle atomique après la microscopie ionique de champ et la microscopie électronique à transmission haute résolution. Prenant l'exemple du microscope à effet tunnel (STM), sa résolution latérale est de 0.1~0.2nm et sa résolution verticale en profondeur est de 0.01nm. Une telle résolution peut clairement observer des atomes ou des molécules uniques répartis sur la surface de l'échantillon. Dans le même temps, le microscope à sonde à balayage peut également effectuer des recherches d'observation dans l'air, d'autres gaz ou des environnements liquides.
Les microscopes à sonde à balayage ont les caractéristiques de la résolution atomique, du transport atomique et du nano-microtraitement. Cependant, en raison des différents principes de fonctionnement de divers microscopes à balayage en détail, les informations sur la surface de l'échantillon reflétées par les résultats obtenus par eux sont très différentes. La microscopie à effet tunnel mesure les informations de distribution des stations d'électrons à la surface de l'échantillon, qui a une résolution au niveau atomique mais ne peut toujours pas obtenir la véritable structure de l'échantillon. Le microscope atomique détecte les informations d'interaction entre les atomes, de sorte que les informations d'arrangement de la distribution atomique sur la surface de l'échantillon peuvent être obtenues, c'est-à-dire la structure réelle de l'échantillon. Mais d'un autre côté, le microscope à force atomique ne peut pas mesurer les informations d'état électronique qui peuvent être comparées à la théorie, donc les deux ont leurs propres avantages et inconvénients.
