Application du microscope infrarouge dans les micro-appareils de l'industrie électronique
Direction d'application : la fonction du microscope infrarouge dans la mesure de la température des dispositifs à micro-semi-conducteurs.
Deuxièmement, le contexte :
Avec le développement des nanotechnologies, leur miniaturisation descendante est de plus en plus appliquée dans le domaine de la technologie des semi-conducteurs. Nous avions l'habitude d'appeler la technologie IC « microélectronique », car la taille des transistors est de l'ordre du micron (10-6 mètres). Cependant, la technologie des semi-conducteurs se développe très rapidement, elle progressera d'une génération tous les deux ans et sa taille sera réduite de moitié par rapport à sa taille d'origine. C'est la fameuse loi de Moore. Il y a environ 15 ans, les semi-conducteurs ont commencé à entrer dans l'ère du submicronique, c'est-à-dire inférieur au micron, puis il y a eu une ère du submicronique profond et beaucoup plus petit que le micron. En 2001, la taille du transistor était même inférieure à 0,1 micron, soit moins de 100 nanomètres. Nous sommes donc à l’ère de la nanoélectronique et la plupart des futurs circuits intégrés seront constitués de nanotechnologies.
Troisièmement, les exigences techniques :
À l’heure actuelle, la principale forme de défaillance des appareils électroniques est la défaillance thermique. Selon les statistiques, 55 % des pannes d'appareils électroniques sont causées par une température dépassant la valeur spécifiée. Avec l’augmentation de la température, le taux de défaillance des appareils électroniques augmente de façon exponentielle. D'une manière générale, la fiabilité de fonctionnement des composants électroniques est extrêmement sensible à la température et la fiabilité diminuera de 5 % pour chaque augmentation de 1 degré de la température de l'appareil au niveau de 70-80 degrés. Il est donc nécessaire de détecter la température de l’appareil de manière rapide et fiable. À mesure que la taille des dispositifs semi-conducteurs devient de plus en plus petite, des exigences plus élevées sont mises en avant en matière de résolution thermique et de résolution spatiale des équipements de détection.
Quatrièmement, photographiez la carte thermique sur place (emplacement : un modèle d'institut de recherche scientifique bien connu : INNOMETE SI330)
