Microscope à force atomique et son application
Le microscope à force atomique est un microscope à sonde à balayage développé à partir du principe de base du microscope à effet tunnel. L'émergence du microscope à force atomique a sans aucun doute joué un rôle dans la promotion du développement des nanotechnologies. Le microscope à sonde à balayage représenté par le microscope à force atomique est un terme général désignant une série de microscopes qui utilisent une petite sonde pour balayer la surface de l'échantillon afin de fournir une observation à fort grossissement. Le balayage AFM peut fournir des informations sur l'état de surface de divers types d'échantillons. Par rapport aux microscopes conventionnels, l'avantage de la microscopie à force atomique est qu'elle peut observer la surface de l'échantillon à fort grossissement dans des conditions atmosphériques, et elle peut être utilisée pour presque tous les échantillons (avec certaines exigences pour la finition de surface), et la surface de l'échantillon peut être obtenu sans autre préparation d'échantillon. Image 3D du . Il peut également effectuer des calculs de rugosité, d'épaisseur, de largeur de pas, de schéma fonctionnel ou d'analyse de la taille des particules sur l'image topographique 3D numérisée.
L'AFM peut détecter de nombreux échantillons et fournir des données pour la recherche de surface et le contrôle de la production ou le développement de processus, qui ne peuvent pas être fournies par les rugosimètres de surface à balayage conventionnels et les microscopes électroniques.
Caractéristiques de la microscopie à force atomique
1. Les capacités de haute résolution dépassent de loin celles des microscopes électroniques à balayage (MEB) et des rugosimètres optiques. Les données tridimensionnelles de la surface de l'échantillon répondent aux exigences de plus en plus microscopiques de la recherche, de la production et du contrôle qualité.
2. Non destructif, la force d'interaction entre la sonde et la surface de l'échantillon est inférieure à 10-8 N, ce qui est bien inférieur à la pression du rugosimètre à stylet précédent, de sorte qu'il n'endommagera pas l'échantillon, et là n'y a pas de problème d'endommagement par faisceau d'électrons dans le microscope électronique à balayage. De plus, la microscopie électronique à balayage nécessite le revêtement d'échantillons non conducteurs, contrairement à la microscopie à force atomique.
3. Il peut être utilisé dans un large éventail d'applications, telles que l'observation de surface, la mesure de la taille, la mesure de la rugosité de surface, l'analyse de la taille des particules, le traitement statistique des saillies et des piqûres, l'évaluation des conditions de formation du film, la mesure des étapes de taille de la couche protectrice, la planéité évaluation des films isolants intercouches, évaluation du revêtement VCD, évaluation du processus de traitement par friction du film orienté, analyse des défauts, etc.
4. Le logiciel dispose de fonctions de traitement puissantes et sa taille d'affichage d'image tridimensionnelle, son angle de vue, sa couleur d'affichage et sa brillance peuvent être définis librement. Et peut choisir le réseau, la ligne de contour, l'affichage de la ligne. Gestion macro du traitement d'image, analyse de la forme et de la rugosité de la section, analyse de la topographie et autres fonctions.
