Mise au point profonde pour l'immersion et la microscopie STED
La focalisation profonde des objectifs NA élevés produit une PSF (fonction d'étalement de points) plus petite, ce qui est essentiel pour les systèmes de microscopie à haute résolution. Dans de nombreux autres systèmes de microscope, tels que les microscopes à immersion, une lamelle couvre-objet est utilisée pour séparer le liquide d'immersion de l'échantillon. Cela peut déformer la PSF au plan focal. Nous démontrons que la PSF asymétrique est encore allongée derrière la lamelle. De plus, la microscopie STED (stimulated emission depletion), largement utilisée à des résolutions de plusieurs dizaines de nanomètres, consomme des PSF annulaires. Suivant la méthode proposée par P.Török et PRT Monro, nous modélisons la focalisation profonde d'un faisceau de Gauss-Lagler. Montre comment générer une PSF toroïdale.
Mise au point profonde avec des microscopes à immersion à NA élevée
Dans VirtualLab Fusion, l'effet de l'interface de la lamelle sur la PSF peut être directement analysé. La déformation focale derrière la lamelle est démontrée et analysée de manière entièrement vectorisée.
Focalisation de faisceaux gaussiens-Laguerre en microscopie STED
Les résultats montrent que la focalisation du faisceau gaussien-Laguerre d'ordre supérieur produit une PSF en forme d'anneau. La taille de la PSF annulaire dépend, entre autres variables, de l'ordre spécifique du faisceau.
