Différence entre le système d'outils et le système de mesure de la vision
1, différences de conception structurelle
1. La structure de conception de l'instrument de mesure d'image est relativement simple et la plage de mesure peut être maximisée en fonction des exigences du client.
2. La conception du microscope à outils est très compacte et précise, en conservant un système de mesure optique pur, en utilisant les oculaires et des lentilles objectives pour l'observation et la mesure, et en utilisant des guides de roulement pour la transmission, avec une précision de mesure élevée et la capacité de coopérer avec divers accessoires pour diverses tasks de mesure.
2, différentes opérations de mesure
1. L'instrument de mesure de l'image a une vitesse de mesure rapide pour les pièces bidimensionnelles, et le logiciel a de nombreuses fonctions. De nombreuses mesures sont effectuées par le logiciel.
2. La plage de mesure du microscope à outils est large et certaines pièces doivent être mesurées via des accessoires. Il peut également effectuer une mesure de hauteur sous un objectif d'objectif élevé, qui a certaines exigences techniques pour l'opérateur. Après avoir été équipé d'un logiciel, il a toutes les fonctions d'un instrument de mesure d'image.
3, différentes gammes de mesures
1. Les instruments de mesure de l'image conviennent plus pour mesurer les pièces bidimensionnelles, mais pour les pièces cylindriques telles que les outils de coupe, les filetages et les cannes à vis, les mesurer est gênante, inexacte et même impossible.
2. La plage de mesure du microscope à outils est extrêmement large, et divers accessoires tels que les têtes de division, les établissements circulaires et les épingles d'éjecteurs peuvent être sélectionnés pour mesurer avec précision les parties cylindriques et bidimensionnelles.
Ainsi, pour certaines pièces sur une surface plate avec des exigences de faible précision, un instrument de mesure d'image peut être choisi. Pour les pièces avec des exigences de haute précision, nécessitant même une focalisation secondaire pendant le processus, * * Microscopes à outils.
