Cinq méthodes d'observation courantes du microscope
1. Méthode de champ clair
Méthode d'observation de la lumière réfléchie directement par un échantillon. La lumière provenant de l'illuminateur est incidente sur l'échantillon à travers un objectif aligné verticalement, et la lumière réfléchie directe de l'échantillon est observée à travers l'objectif.
2. Méthode du champ noir
Observez les méthodes de séchage des échantillons impliquant la lumière diffractée. La lumière d'éclairage est incidente obliquement sur l'échantillon à travers la périphérie de la lentille d'objectif, et la lumière sèche de l'échantillon est observée tandis que la lumière diffractée est observée.
Idéal pour détecter de petites rayures ou fissures sur des échantillons et inspecter des surfaces semblables à des miroirs d'échantillons tels que des wafers.
3. Méthode de lumière polarisée
Il s'agit d'une technique d'observation microscopique qui utilise une lumière polarisée formée par deux ensembles de filtres colorés (polariseur de détection et polariseur). Ces axes de polarisation sont toujours perpendiculaires entre eux. Certains échantillons montrent un fort contraste entre les deux filtres. Ou exprimez la couleur en fonction des propriétés de biréfringence et de l'orientation (c'est-à-dire des échantillons polis de structures en zinc). Lorsque l'analyseur est inséré dans le trajet lumineux d'observation devant l'oculaire, le polariseur se trouve dans le trajet lumineux devant l'illuminateur vertical.
Il convient à l'observation de la structure métallographique (c'est-à-dire le mode de croissance du graphite de la fonte ductile), des minéraux et des cristaux liquides (LCD) et des matériaux semi-conducteurs.
4. Méthode de contraste d'interférence différentielle
Il s'agit d'une technique d'observation microscopique qui modifie la hauteur de contraste en une image stéréoscopique ou tridimensionnelle en utilisant la méthode de fond clair qui peut ne pas être observée par la méthode de fond clair. La lumière d'éclairage passe du prisme de contraste d'interférence différentiel à deux lumières diffractées. La différence de hauteur d'échantillon provoquée par les deux lumières diffractées crée une petite différence dans le trajet lumineux, et la différence de trajet lumineux devient le contraste entre le prisme de contraste et l'analyseur utilisant l'interférométrie différentielle.
Les échantillons sensibles sont réutilisés pour améliorer les aberrations chromatiques très variables.
Il convient pour tester des échantillons avec des différences de hauteur extrêmement précises, y compris des structures métallographiques, des minéraux, des têtes magnétiques, des surfaces de disque dur et des surfaces raffinées de tranches.
5. Méthode de fluorescence
Cette technique est utilisée pour les échantillons fluorescents.
Il convient à la détection de la contamination des plaquettes, de la résine photosensible résiduelle et à la détection des fissures par la méthode de fluorescence.
