Résolvez les problèmes EMI dans les domaines temporel et fréquentiel à l'aide des oscilloscopes numériques RTO
Les oscilloscopes numériques RTO peuvent aider les ingénieurs de développement à analyser les problèmes EMI dans le domaine temporel et fréquentiel lors de la conception de composants électroniques, et peuvent aider à localiser les causes des EMI. L'oscilloscope numérique RTO a un bruit d'entrée extrêmement faible et sa sensibilité peut atteindre 1 mv/div dans la plage de bande passante complète de 0-4 GHz. La capacité d'analyse du spectre FFT en temps réel de RTO peut être utilisée avec une analyse par sonde en champ proche pour diagnostiquer les problèmes EMI.
Fig : Oscilloscope numérique R&S RTO – FFT frontal à faible bruit/hautes performances crée un puissant outil de diagnostic EMI
La clé du diagnostic EMI est la technologie FFT. Avec la fonction FFT des oscilloscopes traditionnels, il est difficile de définir des paramètres dans le domaine fréquentiel et l'analyse spectrale prend beaucoup de temps. L'interface d'exploitation FFT de l'oscilloscope R&S RTO étant basée sur un analyseur de spectre, les utilisateurs peuvent définir directement les paramètres, notamment la fréquence de démarrage, la fréquence de coupure, la résolution de bande passante et le type de détecteur, tout comme avec un analyseur de spectre.
La puissante technologie FFT combinée à la grande profondeur de mémoire de l'oscilloscope RTO permet aux utilisateurs de définir indépendamment les paramètres du domaine temporel et du domaine fréquentiel et d'effectuer de manière flexible des analyses dans le domaine temporel et le domaine fréquentiel. Ces fonctionnalités permettent aux utilisateurs de détecter le plus rapidement possible les sources d’interférences rayonnées.
L'oscilloscope R&S RTO utilise Overlap FFT pour l'analyse du domaine fréquentiel. La technologie FFT superposée peut atteindre une sensibilité élevée aux rayonnements parasites et capturer des points de fréquence parasites occasionnels. L'oscilloscope divise d'abord le signal capturé dans le domaine temporel en plusieurs segments temporels, puis effectue des calculs FFT pour obtenir le spectre de chaque segment temporel, de sorte que des signaux parasites occasionnels de faible énergie puissent être capturés dans le spectre.
Ensuite, les signaux de fréquences différentes sont marqués de différentes couleurs et le spectre d'analyse FFT de toutes les périodes de temps est combiné en un spectre complet.
Les rayonnements et les rayonnements accidentels sont marqués de différentes couleurs. L'analyse du spectre utilisant différentes techniques de marquage de couleur peut parfaitement démontrer le type et la fréquence du rayonnement EMI.
La technologie FFT fenêtrée permet aux utilisateurs de personnaliser une fenêtre temporelle sur le signal capturé, d'effectuer une analyse FFT uniquement sur le signal dans la fenêtre temporelle et d'analyser la relation correspondante entre chaque signal du domaine temporel et le spectre en faisant glisser cette fenêtre. Par exemple, cette technique peut être utilisée pour analyser les problèmes EMI provoqués par un dépassement excessif des transistors dans les alimentations à découpage. Après avoir confirmé le point problématique, l'utilisateur peut vérifier rapidement l'effet de la rectification.
Les outils modèles sont également très efficaces lors de l’analyse des problèmes de rayonnement parasite. Les utilisateurs définissent des modèles dans le domaine fréquentiel et effectuent les réglages correspondants pour les signaux violants, afin de pouvoir déterminer avec précision quels signaux provoquent des violations du spectre. Même pour les signaux capturés, les utilisateurs peuvent ajuster les paramètres FFT, tels que la taille de la fenêtre et la résolution en fréquence. Des fonctions aussi puissantes permettent aux utilisateurs d’effectuer une analyse minutieuse des rayonnements EMI difficiles à capturer.
L'oscilloscope R&S RTO établit une nouvelle référence pour les oscilloscopes grâce à ses riches fonctionnalités d'acquisition et d'analyse. Dans le même temps, associé à une large gamme d'accessoires, tels que la sonde de champ proche R&S HZ-15, il fournit un ensemble complet de solutions de diagnostic EMI.
