Comment l'observation multiple du microscope stéréo s'adapte aux différentes exigences
Les stéréomicroscopes sont utilisés pour l'inspection et l'observation en trois dimensions de pièces électroniques \ cartes de circuits intégrés \ outils de rotor \ aimants, etc. Partant du fait que ces différents objets mesurés doivent être observés à différents grossissements, comment s'adapter à ces différentes exigences ? Il peut être résolu de plusieurs façons : a. grâce aux performances optiques b. observation vidéo facultative c. par les propriétés mécaniques d. grâce à l'éclairage d'une source lumineuse
Performances optiques : selon les exigences d'observation de l'objet mesuré, le problème du grand grossissement et du grand champ de vision peut être résolu en sélectionnant différents oculaires\objectifs. Lorsqu'un seul grand grossissement est requis, l'oculaire à grand grossissement et l'objectif peuvent être remplacés, et lorsqu'un grand champ de vision est requis, l'objectif peut être remplacé et l'oculaire peut être réduit pour répondre aux exigences.
Observation vidéo : Lorsque le grossissement optique n'est pas suffisant, le grossissement électronique peut être utilisé pour compenser. Tout en regardant et en voulant pouvoir stocker et conserver, on peut choisir la vidéo. Il existe de nombreuses manières de vidéo : A. peut être directement via le moniteur B. peut être connecté à l'ordinateur (via un CCD numérique ou une carte d'acquisition d'image CCD analogique) C peut être connecté à un appareil photo numérique (différents appareils photo numériques doivent prendre en compte différentes interfaces et correspondant au microscope)
Propriétés mécaniques : lorsque vous rencontrez des soudures, des assemblages, de grands champs d'inspection de cartes de circuits intégrés et des exigences de distance de travail, nous pouvons les résoudre grâce à des propriétés mécaniques, telles que des supports universels, des supports à bascule, de grandes plates-formes mobiles, etc. Avec leurs caractéristiques de performance, lorsque détectant de gros objets, nous pouvons effectuer notre travail de détection directement à travers le support et la plate-forme. Pas besoin de déplacer notre objet mesuré. Par exemple : la société ABB a du mal à déplacer le circuit imprimé car le circuit imprimé à tester est relativement grand et doit être observé avec une légère inclinaison, de sorte que le travail de détection ne peut être effectué que par un mouvement mécanique. La fonction du support universel peut répondre à ces exigences en même temps.
Éclairage de la source lumineuse : l'éclairage de la source lumineuse joue un rôle essentiel dans la visibilité de l'objet mesuré. Lors du choix de l'éclairage, il doit être basé sur les caractéristiques de l'objet mesuré lui-même (compte tenu de ses exigences en matière de lumière, fort\faible\réfléchissant, etc.) pour sélectionner l'outil d'éclairage et la méthode d'éclairage correspondants.
