AFM combiné avec un microscope optique inversé
L’imagerie combinée utilisant un microscope optique inversé et l’AFM offre une opportunité unique de corréler les données optiques (telles que les données de contraste de phase ou de fluorescence) avec la topographie haute résolution et les données mécaniques que seul l’AFM peut fournir.
Grâce à la conception du chemin optique ouvert du FlexAFM, la lumière peut traverser le FlexAFM avec une obstruction minimale. De plus, la conception optique spéciale SureAlign™ du support en porte-à-faux SA simplifie le fonctionnement du FlexAFM dans les environnements liquides et élimine le besoin d'alignement laser. Lorsqu'il est intégré à l'option de microscope optique inversé, le FlexAFM devient un système idéal pour l'imagerie et la caractérisation des cellules dans des conditions physiologiques. Dans cet exemple, des fibroblastes Rat-2 vivants ont été imagés.
Les applications de FlexAFM combinées à la microscopie optique inversée ne se limitent en aucun cas aux sciences de la vie. Vous trouverez ci-dessous une analyse d’un échantillon de verre revêtu par microscopie optique et microscopie à force atomique. L'AFM fournit des données de plus haute résolution sur la zone imagée et révèle la nature des structures observées au microscope optique. Il peut également être utilisé pour mesurer l’épaisseur du revêtement.
Images de cellules dans une boîte de Pétri : (à gauche) Image à contraste de phase provenant du microscope optique inversé acquise avec une unité FlexAFM et une option de microscope optique inversé, montrant des fibroblastes Rat-2 vivants et le porte-à-faux AFM dans un milieu de culture cellulaire. (À droite) Image AFM des cellules capturées avec la même configuration, affichant les détails fins du cytosquelette Rat-2, qui peuvent être facilement distingués à travers la membrane cellulaire. Taille de l'image AFM : 70 μm × 60 μm.
Image à contraste de phase (en haut) et image AFM (en bas) du verre à couche. Les structures de pores à l'intérieur du revêtement, correspondant aux caractéristiques texturées (par exemple, à l'intérieur des régions elliptiques) observées au microscope optique, sont vérifiées par mesure AFM. Ils fournissent une méthode fiable pour déterminer l’épaisseur du revêtement, qui dans cet exemple est de 40 nm. Taille de l'image AFM : 90 μm × 35 μm.
