Applications et caractéristiques de la microscopie électronique à transmission
La microscopie électronique à transmission (TEM) est un microscope à haute résolution utilisé pour observer la structure interne des échantillons. Il utilise un faisceau d'électrons pour pénétrer dans l'échantillon et former une image projetée, qui est ensuite interprétée et analysée pour révéler la microstructure de l'échantillon.
1. Source électronique
TEM utilise un faisceau d'électrons au lieu d'un faisceau de lumière. Le microscope électronique à transmission de la série Talos équipé par le laboratoire Jifeng Electronic MA utilise un canon électronique à ultra-haute luminosité, tandis que le microscope électronique à transmission à aberration sphérique HF5000 utilise un canon électronique à champ froid.
2. Système de vide
Pour éviter l'interaction entre le faisceau d'électrons et le gaz avant de traverser l'échantillon, l'ensemble du microscope doit être maintenu dans des conditions de vide poussé.
3. Échantillon de transmission
L’échantillon doit être transparent, c’est-à-dire que le faisceau d’électrons peut le pénétrer, interagir avec lui et former une image projetée. En règle générale, l’épaisseur de l’échantillon varie du nanomètre au submicron. Jifeng Electronics est équipé de dizaines de FIB Helios série 5 pour préparer des échantillons TEM ultra-fins de haute qualité.
4. Système de transmission électronique
Le faisceau d'électrons est focalisé via un système de transmission. Ces lentilles sont similaires aux lentilles des microscopes optiques, mais en raison de la longueur d'onde beaucoup plus courte des électrons par rapport aux ondes lumineuses, les exigences de conception et de fabrication des lentilles sont plus élevées.
5. Plan image
Après avoir traversé l'échantillon, le faisceau d'électrons pénètre dans un plan image. Sur ce plan, les informations du faisceau d'électrons sont converties en image et capturées par le détecteur.
6. Détecteur
Les détecteurs les plus courants sont les écrans fluorescents, les caméras CCD (dispositif à couplage de charge) ou les caméras CMOS (dispositif complémentaire à semi-conducteur à oxyde métallique). Lorsqu'un faisceau d'électrons interagit avec un écran fluorescent sur le plan image, de la lumière visible est générée, formant une image projetée de l'échantillon, couramment utilisée pour localiser l'échantillon. En raison de la nécessité d'utiliser des écrans fluorescents dans un environnement de pièce sombre, ce qui n'est pas convivial pour l'utilisateur, les fabricants actuels installent une caméra au-dessus du côté de l'écran fluorescent, permettant aux opérateurs TEM d'observer l'affichage dans un environnement lumineux. environnement pour la recherche d'échantillons, l'inclinaison de l'arbre de la courroie et d'autres opérations. Cette amélioration discrète constitue la base de la séparation homme-machine.
7. Formation d'images
Lorsque le faisceau d’électrons traverse l’échantillon, il interagit avec les atomes et la structure cristalline à l’intérieur de l’échantillon, en les diffusant et en les absorbant. Sur la base de ces interactions, l’intensité du faisceau électronique formera une image sur le plan image. Ces images sont toutes des images de projection bidimensionnelles, mais la structure interne de l’échantillon est souvent tridimensionnelle. Une attention particulière doit donc y être accordée lors de l’analyse des informations détaillées contenues dans l’échantillon.
8. Analyse et interprétation
En observant et en analysant les images, les chercheurs peuvent comprendre la structure cristalline de l'échantillon, les paramètres de réseau, le défaut cristallographique, la disposition atomique et d'autres informations sur la microstructure. Ji Feng dispose d'une équipe professionnelle d'analyse des matériaux qui peut fournir aux clients des solutions complètes d'analyse des processus et des rapports professionnels d'analyse des matériaux.
