Structure du système de microscopie à force atomique (AFM)
1. Section de détection de force :
Dans le système de microscopie à force atomique (AFM), la force à détecter est la force de Van der Waals entre les atomes. Ainsi, dans ce système, un porte-à-faux est utilisé pour détecter les changements de force entre les atomes. Ce micro-cantilever présente certaines spécifications, telles que la longueur, la largeur, le coefficient d'élasticité et la forme de la pointe de l'aiguille, et la sélection de ces spécifications est basée sur les caractéristiques de l'échantillon et les différents modes de fonctionnement, et différents types de sondes sont sélectionnés.
2 Section de détection de position :
Dans le système de microscopie à force atomique (AFM), lorsqu'il y a interaction entre la pointe de l'aiguille et l'échantillon, le porte-à-faux oscille. Par conséquent, lorsque le laser est irradié à l’extrémité du porte-à-faux, la position de la lumière réfléchie changera également en raison de l’oscillation du porte-à-faux, entraînant la génération d’un décalage. Dans l'ensemble du système, le détecteur de position du spot laser est utilisé pour enregistrer le décalage et le convertir en signal électrique pour le traitement du signal par le contrôleur SPM.
3 Système de rétroaction :
Dans le système de microscope à force atomique (AFM), une fois le signal capté par un détecteur laser, il est utilisé comme signal de rétroaction dans le système de rétroaction en tant que signal de réglage interne et entraîne le scanner, généralement constitué de tubes en céramique piézoélectriques, à se déplacer. de manière appropriée pour maintenir la force appropriée entre l’échantillon et la pointe de l’aiguille.
La microscopie à force atomique (AFM) combine les trois parties ci-dessus pour présenter les caractéristiques de surface de l'échantillon : dans le système AFM, un minuscule porte-à-faux est utilisé pour détecter l'interaction entre la pointe de l'aiguille et l'échantillon. Cette force fera osciller le porte-à-faux, puis le laser sera utilisé pour irradier l’extrémité du porte-à-faux. Lorsque la balançoire est formée, la position de la lumière réfléchie change, provoquant un décalage. À ce moment-là, le détecteur laser enregistrera ce décalage et fournira également le signal au système de rétroaction à ce moment-là pour faciliter un réglage approprié du système. Enfin, les caractéristiques de surface de l’échantillon seront présentées sous forme d’image.
