Mise au point profonde pour les microscopes STED et à immersion
La focalisation profonde des objectifs NA élevés produit une PSF (fonction d'étalement de points) plus petite, ce qui est essentiel pour les systèmes de microscopie à haute résolution. Dans de nombreux autres systèmes de microscope, tels que les microscopes à immersion, une lamelle couvre-objet est utilisée pour séparer le liquide d'immersion de l'échantillon. Cela peut déformer la PSF au plan focal. Nous démontrons que la PSF asymétrique est encore allongée derrière la lamelle. De plus, la microscopie STED (Stimulated Emission Depletion), largement utilisée avec des résolutions de plusieurs dizaines de nanomètres, consomme une PSF toroïdale. Suivant l'approche proposée par P.Török et PRT Monro, nous modélisons la focalisation profonde d'un faisceau de Gauss-Raggler. Montre comment générer une PSF circulaire.
Mise au point profonde avec microscopie à immersion à NA élevée
Dans VirtualLab Fusion, l'influence de l'interface de la lamelle sur la PSF peut être directement analysée. La distorsion focale derrière la lamelle est démontrée et analysée de manière entièrement vectorielle.
Focalisation de faisceaux gaussiens-Laguerre au microscope STED
Il a été montré que la focalisation de faisceaux gaussiens-Laguerre d'ordre élevé produit une PSF en forme d'anneau. La taille de la PSF annulaire dépend, entre autres variables, de l'ordre particulier du faisceau.
