Principes des méthodes d'essais non destructifs pour les jauges d'épaisseur de revêtement
La technologie des tests non destructifs est une discipline avec une forte exhaustivité théorique et une grande importance accordée aux aspects pratiques, qui présente un grand potentiel de développement. Cela implique de nombreux aspects tels que les propriétés physiques des matériaux, la conception des produits, les processus de fabrication, la mécanique de la rupture et les calculs par éléments finis.
Dans les industries telles que la chimie, l'électronique, l'énergie et la métallurgie, afin d'obtenir des effets protecteurs ou décoratifs sur divers matériaux, des méthodes telles que la pulvérisation de revêtements de métaux non ferreux et la phosphatation, l'anodisation, etc. sont généralement utilisées. Cela a conduit à l'émergence de concepts tels que les revêtements, les couches de placage, les revêtements, les autocollants ou les films générés chimiquement, que nous appelons « revêtements ».
La mesure de l’épaisseur du revêtement est devenue le processus le plus important nécessaire aux utilisateurs de l’industrie de transformation des métaux pour effectuer l’inspection qualité des produits finis. C'est un moyen essentiel pour que les produits répondent aux * * normes. À l'heure actuelle, l'épaisseur des couches de revêtement est généralement mesurée selon des normes internationales unifiées, tant au niveau national qu'international. La sélection de méthodes et d'instruments de contrôle non destructifs pour les couches de revêtement est devenue de plus en plus cruciale avec les progrès progressifs de la recherche sur les propriétés physiques des matériaux.
Concernant les méthodes de contrôle non destructifs des revêtements, il existe principalement la méthode de découpe en coin, la méthode de découpe à la lumière, la méthode d'électrolyse, la méthode de mesure de la différence d'épaisseur, la méthode de pesée, la méthode de fluorescence des rayons X-, la méthode de réflexion des rayons bêta, la méthode de capacité, la méthode de mesure magnétique et la méthode de mesure par courants de Foucault. À l'exception des cinq dernières méthodes, la plupart de ces méthodes nécessitent d'endommager le produit ou sa surface, ce qui constitue une forme de détection des dommages. Les méthodes de mesure sont lourdes et lentes et conviennent principalement au contrôle par échantillonnage.
Les méthodes de réflexion des rayons X-et des rayons bêta peuvent être utilisées pour des mesures sans-contact et non-destructives, mais l'équipement est complexe et coûteux, et la plage de mesure est petite. En raison de la présence de sources radioactives, les utilisateurs doivent se conformer aux réglementations de radioprotection, généralement utilisées pour mesurer l'épaisseur de divers revêtements métalliques.
La méthode de capacité n’est généralement appliquée que pour tester l’épaisseur du revêtement isolant de conducteurs très minces.
Avec l'avancement continu de la technologie, en particulier l'introduction de la technologie des microprocesseurs ces dernières années, la méthode de mesure magnétique et la méthode de mesure par courants de Foucault ont fait un grand pas vers la miniaturisation, l'intelligence, la multifonctionnalité, la haute précision et la praticité des jauges d'épaisseur. La résolution de mesure a atteint 0,1 µm et la précision peut atteindre 1 %. Il présente également les caractéristiques d’une large applicabilité, d’une large gamme, d’une utilisation facile et d’un faible coût. C'est un instrument largement utilisé dans l'industrie et la recherche scientifique. Jauge de niveau à ultrasons, jauge de niveau de liquide à ultrasons, jauge d'épaisseur à ultrasons.
L'utilisation de méthodes de contrôle non destructifs pour la mesure de l'épaisseur n'endommage pas le revêtement ou le substrat et présente une vitesse de détection rapide, ce qui permet d'effectuer une grande quantité de travaux de test de manière économique. Gaotian Experimental Equipment Co., Ltd. présentera plusieurs méthodes conventionnelles de mesure de l'épaisseur.
