Résolution des problèmes EMI dans les domaines temporel et fréquentiel avec les oscilloscopes numériques RTO
La clé du diagnostic EMI est la technique FFT. Avec la fonction FFT des oscilloscopes traditionnels, il est difficile de définir des paramètres dans le domaine fréquentiel et l'analyse spectrale prend beaucoup de temps. L'interface FFT des oscilloscopes R&S RTO étant basée sur un analyseur de spectre, les utilisateurs peuvent définir directement les paramètres, notamment la fréquence de démarrage, la fréquence de coupure, la résolution de bande passante et le type de détecteur, tout comme avec un analyseur de spectre.
La puissante technologie FFT combinée à la grande profondeur de mémoire des oscilloscopes RTO permet à l'utilisateur de définir indépendamment les paramètres du domaine temporel et fréquentiel et d'effectuer de manière flexible des analyses dans les domaines temporel et fréquentiel. Ces fonctionnalités permettent à l'utilisateur de trouver le plus rapidement possible les sources d'interférences rayonnées.
Les oscilloscopes R&S RTO utilisent la Overlap FFT pour l'analyse du domaine fréquentiel. La technique Overlap FFT permet une sensibilité élevée aux rayonnements parasites et est capable de capturer des points de fréquence parasites occasionnels. L'oscilloscope divise d'abord le signal capturé dans le domaine temporel en un certain nombre de segments temporels, puis effectue des calculs FFT pour obtenir le spectre pour chaque segment temporel, qui capture les signaux parasites épisodiques de faible énergie dans le spectre.
Ensuite, les signaux avec différentes fréquences d'apparition sont marqués de différentes couleurs et les spectres analysés par FFT de tous les segments temporels sont combinés pour former un spectre complet.
Le rayonnement se distingue du rayonnement épisodique en le marquant avec des couleurs différentes. L'analyse spectrale utilisant la technique du codage couleur donne une image parfaite du type et de la fréquence des émissions EMI.
La technique FFT fenêtrée permet à l'utilisateur de personnaliser une fenêtre temporelle sur le signal capturé, d'effectuer l'analyse FFT uniquement sur les signaux compris dans la fenêtre temporelle et, en faisant glisser la fenêtre, d'analyser la correspondance entre chaque segment du signal dans le domaine temporel et le spectre. Par exemple, la technique peut être utilisée pour analyser un problème EMI dû à un dépassement de transistor dans une alimentation à découpage. Après avoir identifié le point problématique, l’utilisateur peut vérifier rapidement l’effet de la rectification.
L'outil modèle est également très efficace pour analyser les problèmes de rayonnements parasites. Les utilisateurs définissent des modèles dans le domaine fréquentiel et les configurent en conséquence pour les signaux incriminés, afin de pouvoir déterminer avec précision quels signaux provoquent des violations spectrales. Même pour les signaux capturés, l'utilisateur peut ajuster les paramètres FFT, tels que la taille de la fenêtre et la résolution en fréquence. Des fonctionnalités aussi puissantes permettent aux utilisateurs d’analyser soigneusement les émissions EMI difficiles à capturer.
Les oscilloscopes R&S RTO établissent une nouvelle référence en matière d'oscilloscopes grâce à leurs riches fonctionnalités de capture et d'analyse. Dans le même temps, grâce à une multitude d'accessoires, tels que la sonde de champ proche R&S HZ-15, elle constitue une solution complète de diagnostic EMI.
