Sélection du grossissement du stéréomicroscope pour différents besoins d'observation
Comment sélectionner le grossissement d'observation d'un stéréomicroscope pour différentes exigences
Les stéréomicroscopes sont utilisés pour l'inspection et l'observation tridimensionnelles de composants électroniques, de circuits intégrés, d'outils de tournage, d'aimants, etc. Puisque différents objets doivent être observés sous différents grossissements, comment pouvons-nous répondre à ces diverses exigences ? Ceci peut être réalisé de plusieurs manières : a. par performances optiques ; b. en sélectionnant l'observation vidéo ; c. par performances mécaniques ; d. par l'éclairage d'une source lumineuse.
Performances optiques: Selon les exigences d'observation du spécimen, différents oculaires et lentilles d'objectif sont sélectionnés pour équilibrer un grossissement élevé et un grand champ de vision. Lorsqu'un grossissement élevé est requis, des oculaires et des lentilles d'objectif haute puissance peuvent être remplacés. Lorsqu'un large champ de vision est nécessaire, remplacez l'objectif et utilisez un oculaire de faible puissance ou à grand champ pour répondre à l'exigence.
Observation vidéo: Lorsque le grossissement optique est insuffisant, un grossissement électronique peut être utilisé pour compenser. Si une observation en temps réel et un stockage d’images sont nécessaires, l’observation vidéo est disponible. Il existe plusieurs modes vidéo : A. affichage direct sur un moniteur ; B. connexion à un ordinateur (via une carte de capture d'image CCD numérique ou CCD analogique) ; C. connexion à un appareil photo numérique (différents appareils photo numériques nécessitent de prendre en compte la compatibilité de l'interface et les performances correspondantes avec le stéréomicroscope).
Performances mécaniques: Pour des scénarios tels que le soudage, l'assemblage, l'inspection de grandes cartes de circuits intégrés et les applications nécessitant une distance de travail spécifique, les exigences peuvent être satisfaites grâce à des configurations mécaniques, telles que des supports universels, des cadres de support, de grandes plates-formes mobiles, etc. Grâce à ces caractéristiques, les grands échantillons peuvent être inspectés directement en ajustant le cadre de support et la plate-forme sans déplacer l'objet de test. Exemple : l'entreprise A a besoin d'une observation inclinée fine pour des cartes de circuits imprimés relativement grandes. Il est difficile de déplacer le circuit imprimé, l'inspection doit donc être complétée par un réglage mécanique. Un support universel peut pleinement satisfaire à ces exigences d’utilisation.
